梅特勒-托利多应邀参加2012中国材料年会

2012年7月14日，由中国材料研究学会主办，太原理工大学承办的“中国材料大会2012”在太原理工大学隆重开幕。黄伯云、周廉、王一德、屠海令、陈难先、张寿荣、张统一、徐惠彬、魏炳波、薛其坤等10余位院士和来自清华大学、北京航空航天大学、美国俄亥俄州立大学、香港科技大学、华南理工大学、上海交通大学、西北有色金属研究院、中国材料研究学会等单位的1600多名材料学界的知名学者专家齐聚太原，共同探讨我国材料技术及产业发展。
 

梅特勒-托利多受邀参加了此次论坛，并带来了全面的实验室检测解决方案，其中热分析产品TGA/DSC1同步热分析仪受到了参会观众的普遍关注，TGA/DSC1同步热分析仪在全国的各大高校材料院所、检测实验室、化工等材料行业领域应用广泛。梅特勒-托利多热分析部产品工程师李焱先生受邀在此次年会上作了题为“热分析在光伏行业的应用”的演讲，围绕梅特勒-托利多在材料测定领域的专业解决方案，受到与会人员的热烈反响。

• 高分辨率– 对整个测量范围的超微克分辨率
• 高效自动化– 非常可靠的自动进样器能处理大理样品
• 广泛的测量范围– 大小样品量均可测量
• 温度范围广– 分析样品的温度从环境温度到1600 °C
• 梅特勒-托利多超微量天平– 依赖领先的天平技术
• DSC 热流测量－同步测定热效应
• 密封单元– 确保有一个完全定义的测量环境
• 联用技术– 使用MS 和FTIR 分析逸出气体
• 模块化概念– 量身定制的解决方案满足当前和以后的需要